Querschliff-Methode

Eines der gebräuchlichsten Schichtdickenmessverfahren ist die mikroskopische Schichtdickenmessung nach DIN EN ISO 1463. Das Verfahren ist anwendbar für nahezu alle Schichtarten wie z.B. Metall-, Oxid-, Emailleschichten, sowie Lacken und Spritzschichten u.v.m.. Das Messverfahren ist gut geeignet für Schichtdicken ≥3 µm.

Bei dünneren Schichten nimmt die Messunsicherheit überproportional zu. Für dünnere Schichten sollten Kalottenschliffe oder Schrägschliffe angewandt werden, die ebenfalls im Institut durchgeführt werden können.

Die mikroskopische Schichtdickenmessmethode wird vielfach als Schiedsverfahren zur Überprüfung und Kalibrierung aller anderen Schichtdickenmessverfahren herangezogen.

Die Schichtdicke wird durch optische Messung an der Querschnittsfläche bestimmt.