Die rasterelektronenmikroskopische Oberflächenanalyse ist eine Alternative zur Lichmikroskopie. Der Vorteil dieser Methode ist die große Schärfentiefe, so dass auch rauhe Oberflächen besser untersucht werden können. Die Darstellung der Oberflächen wird im Rasterelektronenmikroskop durch abtasten der Oberfläche mit einem Elektronenstrahl erstellt und erfolgt in hoher Auflösung.

Unser Rasterelektronenmikroskop ist mit einer EDX- Einheit zur Röntgenmikroanalyse ausgestattet. Mit Hilfe dieses Verfahrens kann die chemische Zusammensetzung des zu untersuchenden Materials bestimmt werden.  Allerdings können organische Stoffe nur bedingt erfasst werden.

Die rasterelektronenmikroskopische Oberflächenanalyse (REM) und die Röntgenmikroanalyse (EDX) werden oft in Kombination eingesetzt. Mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie kann der Schichtaufbau untersucht und vermessen werden. Mit der EDX Analyse wird das Material analysiert, ausserdem kann die Verteilung der Elemente auf der Oberfläche des Materials dargestellt werden.

Auch kleinste Partikel oder flüchtige Substanzen können von uns mit dem Rasterelektronenmikroskop untersucht werden.

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