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Lichtmikroskopisches Messverfahren
Ein gebräuchliches Verfahren zur Schichtdicken-bestimmung verschiedenster Schichten nach den mikroskopischen Verfahren.
Geeignet für
- Metallschichten
- Oxidschichten
- Emailschichten
- Lackschichten
- Spritzschichten
- Konversionsschichten
In Abhängigkeit von der Schichtart und deren Dicke ist die Schichtdickenbestimmung am Querschliff, Kalottenschliff und Schrägschliff möglich.
Geräte:
Auflichtmikroskop (50-fach bis 1000-fach) und Stereomikroskop (bis 100-fach) mit modernem, digitalem Aufnahme- und Bildverarbeitungssystem.