Zerstörende Messverfahren

Bei zerstörenden Messverfahren oder bei der zerstörenden Werkstoffprüfung prüft man Materialien auf chemische und physikalische Eigenschaften. Dabei werden die Proben zerstört oder deren Oberflächen derart verändert, dass die geprüften Teile nicht mehr genutzt werden können.

Im IGOS stehen Ihnen mehrere zerstörende Messverfahren zur Verfügung:

Lichtmikroskopie

Gebräuchliche Verfahren zur Schichtdickenbestimmung verschiedenster Schichten nach den mikroskopischen Verfahren.

Querschliff-Methode

Mikroskopische Schichtdickenmessung nach DIN EN ISO 1463.

Kalottenschliff-Methode

Das Kallottenschliffverfahren ist für Dickenmessungen von 0,3 bis 30 µm dicken Schichten an PVD/CVD-Schichten oder galvanischen Schichten geeignet.

Schrägschliff Verfahren

Das Schrägschliffverfahren ist eine Variante des Querschliff-Verfahrens und eignet sich für dünne und vornehmlich für harte Schichten.

Sie haben Fragen? Wir sind für Sie da.

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